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玻璃介电常数试验测试仪达川

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玻璃介电常数试验测试仪达川

发布用户:Bgjy 时间:2021-09-23 02:40

玻璃介电常数试验测试仪达川

空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。

电源开关。

再调节测试电路电容器使电路谐振,这时电容为C2,可以直接读出Q2,并且Q2= Q1-△Q,。

电极规格固体:材料测量直径Φ38mm 可选;厚度可调 ≥ 15mm

玻璃介电常数试验测试仪达川

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

1.Q值测量范围:2~1023

2.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;

3.电感测量范围:自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能4.5nH-100mH 分别有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。

4.电容直接测量范围:1~460pF                                                

5.主电容调节范围:30~500pF                                            

6.电容准确度150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%                                                                   7.信号源频率覆盖范围100KHz-70MHz(双频对向搜索  确保频率不被外界干扰)另有GDAT-C频率范围200KHZ-100MHz

8、型号频率指示误差:1*10-6 ±1                                      

Q值合格指示预置功能范围:5~1000

Q值自动锁定,无需人工搜索

9.Q表正常工作条件

a.环境温度:0℃~+40℃

b.相对湿度:<80%;

c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

10.其他

a.消耗功率:约25W;   

b.净重:约7kg; 

玻璃介电常数试验测试仪达川

Q测量范围: 1-1000自动/手动量程

液体:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)

注意事项圆片形试样的尺寸(Φ=38mm+1mm,d=2mm+0.5mm)要符合公差要求,两面烧渗银层、浸锡及焊接引出线要符合技术条件。

粉体:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)

介电常数测试仪主要技术特性:

漏导损耗实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质,在外电场的作用下,总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流,这种微小电流称为漏导电流,漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷,或多或少存在一些带电粒子或空位,因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗

玻璃介电常数试验测试仪达川

调谐电容: 主电容30-500PF

电极规格固体:材料测量直径Φ38mm 可选;厚度可调 ≥ 15mm

调谐电容: 主电容30-500PF

ASTM D150 固体电绝缘材料的交流损耗特性及介电常数的试验方法

信号源频率范围: DDS数字合成 10KHz-70MHz

介电常数介质损耗仪采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

试样吸湿后,测得的tanδ值增大,影响测量精度,应严格避免试样吸潮。

Q值高一档量程选择(手动方式时有效)/4按键;先按12键后,再按此键,功能为数字键4。

玻璃介电常数试验测试仪达川

介电常数测试仪主要技术特性:

介质损耗:绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。在交变电场作用下,电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角(功率因数角Φ)的余角δ称为介质损耗角。

工作原理:“Q”的定义Q表是根据串联谐振原理设计,以谐振电压的比值来定位Q值。

ASTM D150 固体电绝缘材料的交流损耗特性及介电常数的试验方法

空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。

常用的检测方法标准有:GB/T 1409 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

谐振指针: LCD显示LCD显示参数: F,L,C,Q,波段等

Q值高一档量程选择(手动方式时有效)/4按键;先按12键后,再按此键,功能为数字键4。

玻璃介电常数试验测试仪达川

介质损耗测试装置介质损耗测试装置与精密数字电桥配用,能对薄膜和各种板材绝缘材料进行高低频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。它符合国标GB/T 1409-2006, GB/T 1693-2007,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

图 Q表前面板和外形示意图

电感测量范围: 15nH-8.4H,4位有效数,分辨率0.1nH

平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。

选择适当的线圈插入电感接线柱。根据需要选择振荡器频率,调节测试电路电容器使电路谐振。假定谐振时电容为C1,品质因素为Q1。

保证二个测微杆0.01mm分辨率。

调谐电容误差和分辨率:±1.5P或<1%

数字键先按12键后有效。

玻璃介电常数试验测试仪达川

谐振点搜索: 自动扫描

Q值合格范围比较值设定/7按键,按此键后,显示屏第三行右部出现COMP字符,当Q合格时,显示OK,並同时鸣响蜂鸣器,Q不合格时,显示NO。设置Q值合格范围详细说明见后页。先按12键后,再按此键,功能为数字键7。

Q量程切换: 自动/手动

Q值量程自动/手动控制方式选择/8按键,按此键后,显示屏第四行左部出现D对应的指示:AUTO(自动),MAN(手动);先按12键后,再按此键,功能为数字键8。

信号源频率覆盖比: 6000:1

漏导损耗实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质,在外电场的作用下,总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流,这种微小电流称为漏导电流,漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷,或多或少存在一些带电粒子或空位,因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗

Q测量工作误差: <5%

陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外,表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。

玻璃介电常数试验测试仪达川

Q测量工作误差: <5%

数字键先按12键后有效。

介电常数测试仪主要特点:

数字键先按12键后有效。

工作原理:“Q”的定义Q表是根据串联谐振原理设计,以谐振电压的比值来定位Q值。

调电容调谐(长寿命调谐慢转结构);

再调节测试电路电容器使电路谐振,这时电容为C2,可以直接读出Q2,并且Q2= Q1-△Q,。

保证二个测微杆0.01mm分辨率。

玻璃介电常数试验测试仪达川